實(shí)驗(yàn)室天平秤分辨率是可以檢測到的變化程度，通常用多個點(diǎn)表示。 它是量程（單位：g）除以讀數(shù)精度（單位：g）。

一個量程為200 g和讀數(shù)精度為0.00001 g的分析天平或臺秤的分辨率為2000萬個點(diǎn)。 梅特勒-托利多的較高分辨率比較器是M1質(zhì)量比較器，具有10億個點(diǎn)的分辨率。

電子天平

適用于稱量過程的允差有哪些？

允差用于確定實(shí)驗(yàn)室天平或秤是否測量足夠好，可滿足過程要求和多少允許的偏差。 允差設(shè)置了發(fā)出通過/未通過聲明的標(biāo)準(zhǔn)。 允差有各種來源，包括法定機(jī)構(gòu)、制造業(yè)和過程本身。

法定允差：

OIML R76或NIST手冊44（僅限美國）規(guī)定的法定允差用于評估合法貿(mào)易品要求。 這些允差非常大，使用實(shí)驗(yàn)室天平或者在測量范圍的低端進(jìn)行稱量時(shí)，可輕易達(dá)標(biāo)。

制造商允差：

制造商允差可確保設(shè)備滿足制造商規(guī)格。 制造商允差不考慮用戶的特定過程要求，因此不適合改進(jìn)稱量過程。

過程允差：

特定過程允差由用戶定義，支持過程改進(jìn)，節(jié)省材料，避免浪費(fèi)和返工。 對于合法貿(mào)易應(yīng)用中的秤，除法定允差外，還應(yīng)使用過程允差。

1/5